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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：美國SCS EM EYE靜電事件探測(cè)儀

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2024-08-18

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

CTM048美國SCS EM EYE靜電事件探測(cè)儀多種功能，可以測(cè)試ESD（靜電放電）事件，EMF（電磁場(chǎng)），RF（射頻）信號(hào)

產(chǎn)品特性Product characteristics

專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO于2011年共同創(chuàng)辦，專注工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域十六年，志在破舊立新！*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，以我們*進(jìn)*的經(jīng)營理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購與技術(shù)工程師的工作，提供較有競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國用戶提供美國SCS EM EYE靜電事件探測(cè)儀儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

美國SCS EM EYE靜電事件探測(cè)儀EM EYE METER產(chǎn)品描述

是一款靜電事件探測(cè)儀，可以測(cè)試靜電放電的次數(shù)和放電電壓。儀器具有分辨信號(hào)的能力，區(qū)分 EMI 和 ESD 信號(hào)，剔除非 ESD 相關(guān)事件。用戶可以選擇測(cè)試 CDM、HBM、MM 放電模型，儀器根據(jù)

放電模型、探測(cè)距離和信號(hào)強(qiáng)度計(jì)算出大致的放電電壓。

1 主機(jī)身

2 SD 內(nèi)存卡（已插入主機(jī)身）

3 CTC021 探測(cè)模塊（含 CTS001 天線）

4 CTC113-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，1.8 米長(zhǎng)纜線

5 電源適配器

6 CTC115-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，抗高溫，1.8 米長(zhǎng)纜線

標(biāo)配：1 +2 +3 +4 +5

選配：6

測(cè)試靜電放電（ESD）事件

4.1. 設(shè)置探測(cè)距離和放電模型

儀器采用專li的算法，根據(jù)探測(cè)距離、獲得信號(hào)強(qiáng)度和放電模型計(jì)算出大致的放電電壓。用戶需要設(shè)置探測(cè)距離和放電模型。

探測(cè)距離：

天線距離被測(cè)試物/測(cè)試點(diǎn)的距離，設(shè)置范圍 0.5~15.0 英寸（1.3~38.1cm）

注意：實(shí)際測(cè)試時(shí)，天線距離被測(cè)試物/測(cè)試點(diǎn)應(yīng)該為所設(shè)置的距離。

放電模型：

CDM：器件本身帶有靜電，當(dāng)接觸到接地導(dǎo)體或其他電位導(dǎo)體時(shí)發(fā)生靜電放電

MM：帶靜電的設(shè)備或工具接觸到接地的器件，發(fā)生靜電放電

HBM：帶靜電的人體接觸到接地的器件，發(fā)生靜電放電

Raw Input：天線所獲得的實(shí)際信號(hào)強(qiáng)度（電平信號(hào)），該讀數(shù)用于儀器校準(zhǔn)

點(diǎn)擊屏幕的距離或放電模型方框，進(jìn)入設(shè)置界面，屏幕顯示如下：

 點(diǎn)擊圓盤▲/▼設(shè)置探測(cè)距離，選擇范圍 0.5~15.0 英寸（1.3cm~38.1cm），0.5 英寸以下，每點(diǎn)擊 1 次遞增 0.5 英寸；10 英寸以上，每點(diǎn)擊 1 次遞增 1 英寸。

 點(diǎn)擊圓盤?/?設(shè)置放電模型，可以選擇 CDM、MM、HBM、Raw Input

 設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面

4.2. 報(bào)警閾值設(shè)置

點(diǎn)擊弧形圓點(diǎn)，進(jìn)入設(shè)置界面。（備注：儀器內(nèi)存只記錄超過閾值的靜電放電事件）

 點(diǎn)擊圓盤?/?設(shè)置報(bào)警閾值，范圍 000~990V：

 0~10V 按 1V 增幅設(shè)置

 10~990V 按 10V 增幅設(shè)置

 如果選擇了“Raw Input"測(cè)試模式，可以選擇 1~1500mV

 設(shè)置完成后，點(diǎn)擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面

按以上設(shè)置完成后，即可開始測(cè)試。測(cè)試時(shí)屏幕出現(xiàn)閃電符號(hào)，表示開啟了信號(hào)屏蔽功能，儀器剔除了非ESD 放電信號(hào)，只顯示靜電放電事件。點(diǎn)擊該符號(hào)切換到全信號(hào)模式，這時(shí)出現(xiàn)三角形符號(hào)，表示儀器顯

示所有探測(cè)到的信號(hào)，包括 EMI 背景噪音和 ESD 放電信號(hào)。

測(cè)試時(shí)，屏幕顯示的電壓值為估算的放電電壓，數(shù)字為超過閾值的放電次數(shù)。最高可以記錄 32767 次放電次數(shù)。點(diǎn)擊 Power/C 鍵可以清零放電次數(shù)，重新累計(jì)。

4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 規(guī)范進(jìn)行靜電放電事件風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估流程

備注：

 首先確定靜電敏感器件是否有導(dǎo)體部位接觸或非常接近導(dǎo)電的物體，例如金屬-金屬接觸，如果沒有，通常不會(huì)有靜電放電風(fēng)險(xiǎn)，無需進(jìn)一步進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估。

 空載測(cè)試：在制程中不要放入靜電敏感器件，記錄下測(cè)到的靜電放電現(xiàn)象

 放入靜電敏感器件后，如果沒有探測(cè)到更多的放電現(xiàn)象，表示探測(cè)到的是干擾信號(hào)/背景噪音，而非放入靜電敏感器件后造成的靜電放電，評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)

 如果探測(cè)到更多的放電現(xiàn)象，根據(jù)測(cè)到的放電電壓值和器件的靜電敏感閥值來評(píng)估風(fēng)險(xiǎn)，如果放電電壓值超過器件所列明的閥值，采取措施消除危險(xiǎn)，例如采取接地、離子中和等方式采取消除風(fēng)險(xiǎn)的措施后，再次進(jìn)行評(píng)估

1 是否和靜電敏感器件直接

接觸或距離非常近

評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)

2 進(jìn)行空載測(cè)試

3 把靜電敏感器件放入后測(cè)試，對(duì)比測(cè)試結(jié)果

4 是否測(cè)到更多的靜電放電事件？

5 評(píng)估結(jié)束-低風(fēng)險(xiǎn)

否

否

6 評(píng)估風(fēng)險(xiǎn)程度

消除風(fēng)險(xiǎn)

按 2~5 步驟再次評(píng)估

儀器校準(zhǔn)

測(cè)試靜電放電電壓，測(cè)試方法是獲取放電信號(hào)的強(qiáng)度然后采用專有算法計(jì)算出放電電壓值。

原廠校準(zhǔn)書僅顯示儀器能否正確接收到放電信號(hào)，校準(zhǔn)方法是采用脈沖電源輸出 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信號(hào)，然后驗(yàn)證儀器接收到的信號(hào)強(qiáng)度（dBμV）是否準(zhǔn)確。

疑問一：如何在第三方進(jìn)行校準(zhǔn)？

答：不能在第三方機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn)，因?yàn)樵瓘S對(duì)儀器的天線數(shù)據(jù)（電容、阻抗）等均無公開。第三方無法對(duì)儀器能否接收正確放電信號(hào)進(jìn)行驗(yàn)證。即使第三方可以驗(yàn)證儀器是否準(zhǔn)確獲取放電信號(hào)，后續(xù)也無法根據(jù)

信號(hào)強(qiáng)度計(jì)算出放電電壓值，該算法為原廠專有算法，無公開。

所以儀器必需返回原廠進(jìn)行校準(zhǔn)，亞洲用戶可以返回 DESCO 日本公司進(jìn)行校準(zhǔn)。

疑問二：該儀器測(cè)試放電電壓，但為什么沒有測(cè)試精度參數(shù)？

答：靜電放電電壓和實(shí)際物體的電容有關(guān)，儀器無法事先知道被測(cè)物體的電容，只能采取一個(gè)經(jīng)驗(yàn)值（根據(jù)實(shí)驗(yàn)取一個(gè)能兼顧大多數(shù)器件的經(jīng)驗(yàn)值）來計(jì)算放電電壓。所以儀器的讀數(shù)是接近實(shí)際放電電壓值，而

沒有一個(gè)定量的測(cè)試精度。

疑問三：如何直觀地驗(yàn)證儀器的測(cè)試準(zhǔn)確度？

答：下圖顯示了靜電模擬器的放電過程，儀器實(shí)測(cè)讀數(shù)接近放電電壓。用戶可以用靜電放電槍做這類驗(yàn)證。