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產(chǎn)品中心您當前的位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 梅特勒METTLER > 分析天平 > XPR204/AC梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平

基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平

產(chǎn)品型號：XPR204/AC

更新時間：2024-08-19

產(chǎn)品簡介：

專業(yè)為中國區(qū)用戶提供梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓、維修服務

產(chǎn)品特性Product characteristics

專業(yè)儀器設(shè)備與測試方案供應商——上海堅融實業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由堅JET和融YOO兩位技術(shù)工程師于2011年共同創(chuàng)立，志在破舊立新！*測試測量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務銷售，不專業(yè)做售前測試方案，不專業(yè)做售后使用培訓的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學歷，且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗，專業(yè)為中國區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測試方案、技術(shù)培訓、維修服務，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導向的儀器設(shè)備綜合服務商。

梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平規(guī)格

大秤量	220 g/81 g
可讀性	0.1 mg; 0.01 mg
重復性測試載荷	0.015 mg (10 g)
小稱量值（USP, 0.1%，典型值)	20 mg
校正	內(nèi)部/ FACT
秤盤外形尺寸(寬x深)	78 mm x 73 mm
合法交易	適用
穩(wěn)定時間	1.5 s
重復性（典型值）	0.01 mg
線性誤差（典型值）±	0.2 mg
尺寸	485 mm
尺寸 (高x寬)	292 mm x 195 mm
物料號 (s)	30535455

梅特勒METTLER XPR205DU/AC分析天平
每次均得有效結(jié)果.
XPR分析天平、81/220 g量程、0.01/0.1 mg可讀性、7''電容彩色觸摸屏、用戶管理、靜電檢測、自動內(nèi)部校正且配有LabX
一次即準的結(jié)果
集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協(xié)同作用，確保各項條件處于佳狀態(tài)，獲得正確的稱量結(jié)果。

StaticDetect
由于具備StaticDetect專li功能，XPR微量天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電放電。

隨時可進行審核
將XPR分析天平連接至LabX軟件，為法規(guī)遵從和數(shù)據(jù)完整性提供全面支持。

XPR分析天平可讀性為0.005 mg至0.1 mg，量程為41 g至320 g，可滿足您全部的分析工作流程要求。
XSR分析天平的可讀性范圍為0.01 mg至0.1 mg，量程從41 g至320 g。
量程可達320 g
可讀性低至0.005 mg
小稱量值低至1 mg
符合USP的小稱量值低至10 mg
符合行業(yè)標準
質(zhì)量保證功能主動監(jiān)控是否滿足正確稱量的所有相關(guān)條件。
創(chuàng)新型防靜電解決方案
XPR天平采用獲得專li的防靜電解決方案，可檢測和消除樣品和稱量容器上的靜電電荷。
確保更快速提供稱量結(jié)果的解決方案
SmartGrid網(wǎng)格秤盤可大限度減小氣流對于稱量單元的影響，可使天平快速達到穩(wěn)定和更快速地提供結(jié)果。
確保數(shù)據(jù)完整性
將XPR天平與LabX軟件相連接，幫助您滿足MHRA與FDA 21 CFR第11部分關(guān)于數(shù)據(jù)完整性的要求。
易于清潔
XPR天平內(nèi)的防風罩可輕松拆除，無需使用任何工具。所有部件均可在洗碗機中安全清洗。
智能選配件
經(jīng)過專業(yè)設(shè)計的選配件可支持您完成日常任務、優(yōu)化稱量過程效率和改進稱量人體工程學。